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AEC-Q100中文版 评分:

AEC-Q100中文版，好不容易找到了。真的不容易啊，希望对大家有帮助。
2009-03-05 上传 大小：751KB
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AEC_Q100_Rev_I.pdf

汽车电子可靠性测试，电气、ESD、Cylcing、HTO、高温高压测试，封装、Wafer等汽车电子可靠性测试，电气、ESD、Cylcing、HTO、高温高压测试，封装、Wafer等

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AEC-Q100G中文版

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AEC-Q100-004D：2012 IC Latch-Up Test（IC锁存测试）- 完整英文电子版（11页）

所有在集成电路（IC）设备上进行的、符合AEC Q100标准的闩锁测试，应符合JEDEC EIA/JESD78规范的最新版本，并有以下澄清和要求（所列章节编号与JEDEC规范相对应）。自本文件的最后一次修订以来，文本的改进和差异显示为下划线区域。

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AEC-Q100G中文版.pdf

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AEC-Q100G中文版_Flatten.pdf

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AEC-Q100-002E：2013人体模型（HBM） 静电放电（ESD）测试 - 完整英文电子版（7页）

完整英文电子版 AEC-Q100-002E：2013 Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge（ESD) Test(人体模型（HBM） 静电放电（ESD）测试）。对符合 AEC Q100 标准的集成电路器件进行的所有 HBM 测试均应符合 ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 规范的最新修订版，以及此处定义的其他要求。

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AEC - Q100-011 - Rev-B - Charged Device Model - CDM - Electrostatic Discharge Test.pdf

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aec-q100 stander file

AEC-Q100 stander file

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AEC-Q100-基于集成电路应力测试认证的失效机理-G中文版.pdf

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车用芯片设计规范 AEC-Q100

车用芯片设计规范 AEC-Q100

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AEC_Q100最新版原文.pdf

AEC-Q100最新版原文

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AEC-Q100-007B：2007 故障模拟和测试分级 - 完整英文电子版（25页）

完整英文电子版 AEC-Q100-007B：2007 Fault Simulation and Test Grading（故障模拟和测试分级）。本测试方法定义了故障分级程序并指定了被测设备的制造测试程序必须检测到故障的级别。 不包括参数故障。 故障分级的另一个术语是故障模拟。 故障分级适用于所有数字电路，包括混合信号和线性电路的数字部分。 故障分级不适用于电路的线性部分。 此外，本文档涵盖建模和逻辑仿真要求； 假设的故障模型和故障模拟要求； 以及评估和报告测试覆盖率必须遵循的程序。

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AEC-Q100GFAILUREMECHANISMBASEDSTRESSTESTQUALIFICATIONFORIC.pdf

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AEC_Q100_Rev_H_Base_Document(标准文档).pdf

AECQ100 标准文档，需要的下载 AEC-Q100 首先定义了用来规范给定器件环境工作温度范围的五个不同温度等级。例如，1 级是车载应用非常普遍的标准，规定器件可以在 -40°C 至 +125°C (零下 -40°F 至 +257°F)的环境温度下工作。此外，器件电气规范通常可在该工作范围内确保。但对于一些非汽车器件来说则不是这样，因为它们的规范只需在室内温度下即可确保。查看一下 DRV8801-Q1 有刷 DC 电机驱动器产品说明书,就会发现电气特性表的顶部有一条注释说明了该规范可在整个 1 级工作范围内确保。 　　另一个重要的是，AEC-Q100 合规性要求与器件的生产验证有关。任何IC在进入生产阶段之前，都必须通过一系列电气、使用寿命以及可靠性应力测试。对于汽车级 IC 而言，产品测试比工业或商业 IC 要严格得多。这里又会涉及温度级，因为不同温度级具有不同质量要求，其中0 级(-40°C 至 +150°C)最为严格并适用于传动系统或引擎盖下的应用。这些严格的认证测试可确保在恶劣汽车环境中设备工作的高可靠性与长时间的使用寿命。Q100 应用已不仅仅局限于汽车市场，因为由于测试更加严格，越来越多的工业客户放弃标准工业级产品，转而选用Q100 认证部件。 　　ACE-Q100对汽车零件工作温度等级定义如下： 　　0等级：环境工作温度范围-40℃-150℃ 　　1等级：环境工作温度范围-40℃-125℃ 　　2等级：环境工作温度范围-40℃-105℃ 　　3等级：环境工作温度范围-40℃-85℃ 　　4等级：环境工作温度范围0℃-70℃ 　　AEC-Q100是由美国汽车电子协会AEC所制定的规范,主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。 　　此外，器件制造与设计变更通知的处理方法也存在不同。对于汽车级器件而言，重新认证与变更通知要求比工业或商业器件要严格得多。例如，在工业器件上执行很多微小的工艺变化都不需要通知客户或对器件进行重新认证，但对于汽车器件来说需要这样做。 　　有时AEC-Q100 规范会有一些可以接受的例外情况，这取决于客户或应用。这些例外情况以及在器件上执行的全部验证测试列表可在生产部件批准流程 (PPAP) 文档中找到。例如，较为常见的一种例外情况是 ESD 性能。AEC-Q100 要求器件能够承受 2000V 人体放电模式 (HBM)，在边角引脚上能承受 750V 的带电器件模式 (CDM)，而在所有其它引脚上则能承受500V 的电压。在器件产品说明书中可以找到 ESD 规范。例如，1A 有刷 DC 电机驱动器 DRV8832-Q1 的产品说明书在第一页列出了ESD 规范。ESD 规范根据AEC-Q100 分类码列出。 注意：AEC-Q100 最低规范要求为 H1A (HBM) 和 C4B (CDM)。

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AEC - Q100 全系列 - 包含全部13份最新英文电子版标准文件 .rar

包含的13份最新英文电子版标准文件是： 1， AEC-Q100H：2014 - 完整英文电子版（48页） 2， AEC-Q100-001C：1998 - 完整英文电子版（14页） 3， AEC-Q100-002E：2013 - 完整英文电子版（7页） 4， AEC-Q100-003E：2003 - 完整英文电子版（14页） 5， AEC-Q100-004D：2012 - 完整英文电子版（11页） 6， AEC-Q100-005D1：2012 - 完整英文电子版（14页） 7， AEC-Q100-006D：2003 - 完整英文电子版（15页） 8， AEC-Q100-007B：2007 ）- 完整英文电子版（25页） 9， AEC-Q100-008A：2003 - 完整英文电子版（6页） 10， AEC-Q100-009B：2007 - 完整英文电子版（10页） 11，AEC-Q100-010A：2003 - 完整英文电子版（7页) 12，AEC-Q100-011D：2019 - 完整英文电子版（12页） 13， AEC-Q100-012：2006 - 完整英文电子版（14页

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AEC-Q100标准

这个文档是车规AEC-Q100的文档，有识之士必须认识，呵呵

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AEC-Q100-005D1：2012 非易失性存储器写入/擦除耐久性、数据保留和操作寿命测试 - 完整英文电子版（14页）

完整英文电子版 AEC-Q100-005D1：2012 Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, and Operational Life Test （非易失性存储器程序-擦除耐久性、数据保留和操作寿命测试 ）。本测试旨在评估独立非易失性存储器 (NVM) 集成电路或具有非易失性存储器模块（例如微处理器闪存）的集成电路的存储器阵列的能力： 故障（编程/擦除耐久性），在非易失性存储器的预期寿命（数据保留）内保留数据，并在施加电偏压的情况下承受恒温（运行寿命）。

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汽车电子AEC-Q100

AEC-Q100 汽车电子STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS

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